MindManager v16.0.153官方版(32位)86.5 mvv 16 . 0 . 153官方版View Sigmadyne SigFit是一款光机热耦合分析工具,可自适应控制仿真,采用蒙特卡罗方法进行变化分析,计算动态响应波前误差(与光学分析软件相连)和视线误差,可广泛应用于空间相机、红外光学镜头、激光引信等领域。
功能介绍
1.基本功能。
热分析和力学分析的温度、应力和变形通过Zernike多项式拟合或位图插值,为光学分析软件提供光学表面的变形信息和温度、应力引起的折射率变化信息,从而实现热、力学、光耦合分析。
多项式拟合:将各种输入格式的数据拟合成多项式。多项式类型包括标准和边缘Zernike多项式、非球面多项式和X-Y多项式。拟合结果包括多项式系数、光学工具的输入宏文件、拟合RMS和PV值等。
表面变形插值:将光学测试的实验数据或有限元模拟的网格数据插值成数组或另一个网格结果,可用于将模拟预测结果与光学测试结果进行比较,或描述泽尼克多项式无法准确描述的光学表面变形。
2.高级应用。
主动控制:分析光学表面RMS值与激励源数量的关系,分析如何布置激励源,使光学表面RMS更小,为外加激励源的位置和大小提供参考。
动力响应:基于固有频率结果、激励载荷和阻尼,计算谐波振动、随机振动和瞬态载荷引起的刚体位移、曲率变化和均方根误差、传递函数变化以及各种模态对均方根的影响。
优化(仅限MSC Nastran):将光学表面的Zernike系数、表面RMS值和PV值转化为Nastran格式的方程,利用Nastran的优化求解器对光学表面的表面、支撑结构和材料参数进行优化。
光程差分析:根据有限元分析的镜面应力和温度结果,利用流体软件计算出镜面附近流体的密度,以及这些参数对折射率的影响,计算出平均光程差、双折射等光学特性。